Alat Ukur Kepadatan Areal Sinar-X Super
Prinsip pengukuran
Bila sinar tersebut mengenai elektroda, maka sinar tersebut akan diserap, dipantulkan, dan dihamburkan oleh elektroda, sehingga terjadi pelemahan tertentu pada intensitas sinar setelah elektroda yang dipancarkan relatif terhadap intensitas sinar datang, dan rasio pelemahannya berbanding terbalik dengan berat atau kerapatan areal elektroda.
Saya=I_0 e^−λm⇒m= 1/λln(I_0/I)
I_0 : Intensitas sinar awal
I : Intensitas sinar setelah elektroda pemancar
λ : Koefisien penyerapan benda yang diukur
m : Ketebalan/kepadatan areal objek yang diukur

Sorotan peralatan

Perbandingan pengukuran sensor semikonduktor dan sensor laser
● Pengukuran garis besar dan fitur detail: pengukuran garis besar kerapatan areal resolusi spasial milimeter dengan kecepatan tinggi dan presisi tinggi (60 m/menit)
● Pengukuran lebar ultra: dapat disesuaikan dengan lebar lapisan lebih dari 1600 mm.
● Pemindaian kecepatan sangat tinggi: kecepatan pemindaian yang dapat disesuaikan 0-60 m/menit.
● Detektor sinar semikonduktor inovatif untuk pengukuran elektroda: respons 10 kali lebih cepat daripada solusi tradisional.
● Didorong oleh motor linear dengan kecepatan dan presisi tinggi: kecepatan pemindaian meningkat 3-4 kali lipat dibandingkan dengan solusi tradisional.
● Sirkuit pengukuran kecepatan tinggi yang dikembangkan sendiri: frekuensi pengambilan sampel hingga 200kHZ, meningkatkan efisiensi dan akurasi pelapisan loop tertutup.
● Perhitungan kehilangan kapasitas pengenceran: lebar titik dapat mencapai 1 mm. Alat ini dapat secara akurat mengukur fitur detail seperti garis tepi area pengenceran dan goresan pada lapisan elektroda.
Antarmuka perangkat lunak
Tampilan antarmuka utama sistem pengukuran yang dapat disesuaikan
● Penentuan area penjarangan
● Penentuan kapasitas
● Penentuan goresan

Parameter Teknis
Barang | Parameter |
Perlindungan radiasi | Dosis radiasi 100mm dari permukaan peralatan kurang dari 1μsv/jam |
Kecepatan pemindaian | 0-60m/menit dapat disesuaikan |
Frekuensi sampel | 200 ribu Hz |
Waktu respons | <0,1 ms |
Rentang pengukuran | 10-1000 gram/㎡ |
Lebar titik | 1mm、3mm、6mm opsional |
Akurasi pengukuran | P/T≤10%Integral dalam 16 detik:±2σ:≤±nilai sebenarnya×0,2‰ atau ±0,06g/㎡; ±3σ:≤±nilai sebenarnya×0,25‰ atau ±0,08g/㎡;Integral dalam 4 detik:±2σ:≤±nilai sebenarnya×0,4‰ atau ±0,12g/㎡; ±3σ:≤±nilai sebenarnya× 0,6‰ atau ±0,18g/㎡; |