Sistem pelacakan & pengukuran tersinkronisasi multi-bingkai

Aplikasi

Digunakan untuk pelapisan katoda dan anoda baterai litium. Gunakan beberapa frame pemindaian untuk pelacakan dan pengukuran elektroda yang tersinkronisasi.

Sistem pengukuran multi-bingkai bertujuan untuk menggabungkan bingkai pemindaian tunggal dengan fungsi yang sama atau berbeda ke dalam suatu sistem pengukuran dengan memanfaatkan teknologi pelacakan yang unik, sehingga dapat mewujudkan semua fungsi bingkai pemindaian tunggal serta fungsi pelacakan & pengukuran yang tersinkronisasi yang tidak dapat dicapai oleh bingkai pemindaian tunggal. Sesuai dengan persyaratan teknologi pelapisan, bingkai pemindaian dapat dipilih dan dapat mendukung maksimal 5 bingkai pemindaian.

Model umum: instrumen pengukuran kepadatan permukaan sinkron sinar-X/β rangka ganda, tiga rangka, dan lima rangka: peralatan pengukuran ketebalan & kepadatan permukaan terintegrasi CDM rangka ganda, tiga rangka, dan lima rangka yang disinkronkan.

Kirim email ke kami

Detail Produk

Label Produk

Tata letak bus EtherCAT

Teknologi R&D independen: host kontrol industri + pengontrol gerak (EtherNet + EtherCAT)

Akurasi sinkronisasi

Akurasi sinkronisasi: kesalahan sinkronisasi ≤ 2mm (terhubung ke encoder pelapis);

Pengontrol gerak khusus dan enkoder presisi tinggi dilengkapi, untuk memastikan keakuratan pelacakan sinkron.

Diagram pelacakan multi-bingkai

Perangkat lunak kontrol

Antarmuka yang kaya informasi; pelanggan dapat memilih antarmuka untuk bingkai 1#, 2#, dan 3# secara opsional;

Tersedia untuk statistik CPK, Maks dan Min dll.

Pengukuran kuantitas lapisan bersih

Pengukuran kuantitas lapisan bersih: konsistensi kuantitas lapisan bersih merupakan indeks inti untuk kualitas elektroda dalam proses pelapisan;

Dalam proses produksi, berat total foil tembaga dan elektroda berubah secara bersamaan, dan kuantitas lapisan bersih pada dasarnya stabil melalui pengukuran selisih dua frame. Pemantauan kuantitas lapisan bersih yang efektif sangat penting bagi elektroda baterai litium. Latar belakang pengumpulan data pada gambar di bawah ini: pelapisan satu sisi anoda menghasilkan gulungan sepanjang 2.000 meter. Set pertama alat ukur kerapatan permukaan digunakan untuk mengukur selisih foil tembaga sebelum pelapisan; sedangkan set kedua digunakan untuk mengukur berat total elektroda setelah pelapisan.